MODELADO DE LA FORMA DE LÍNEA DEL ESPECTRO RAMAN PARA UN SUBSTRATO DE CdTe

Carlos Israel Medel Ruiz

Resumen


Resumen

En este trabajo utilizamos la espectroscopía Raman para examinar dos zonas de la superficie de un substrato de CdTe con valores de rugosidad media de 279 y 430 nm. Los espectros Raman se obtuvieron utilizando una longitud de onda de excitación de 830 nm en el rango de frecuencias de 120 a 380 cm-1. La forma de línea del espectro Raman fue modelada utilizando una superposición lineal de funciones Lorentzianas ubicadas en las frecuencias correspondientes a fonones provenientes del centro de la primera zona de Brillouin. Los parámetros de ajuste son la altura del espectro y el ancho de línea, los cuales brindan información de la densidad de estados fonónicos y el tiempo de vida del fonón, respectivamente. Los resultados obtenidos son una herramienta que contribuye al entendimiento de la forma de línea del espectro Raman y a su uso para el análisis de superficies.

Palabra(s) Clave: Espectroscopía Raman, Función Lorentziana, Rugosidad superficial.


MODELING OF THE RAMAN SPECTRUM LINE FORM FOR A SUBSTRATE OF CdTe


Abstract

In this work we use Raman spectroscopy to examine two areas of the surface of a CdTe substrate with mean roughness values of 279 and 430 nm. The Raman spectra were obtained using an excitation wavelength of 830 nm in the frequency range of 120 to 380 cm-1. The line shape of the Raman spectrum was modeled using a linear superposition of Lorentzian functions located at the frequencies corresponding to phonons coming from the center of the first Brillouin zone. The adjustment parameters are the height of the spectrum and the line width, which provide information on the density of phononic states and the lifetime of the phonon, respectively. The results obtained are a tool that contributes to the understanding of the line shape of the Raman spectrum and its use for surface analysis.

Keywords: Raman spectroscopy, Lorentzian function, Surface roughness.


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